Dettagli del prodotto
Luogo di origine: Made in China
Marca: Dayoo
Termini di pagamento e di spedizione
Quantità di ordine minimo: Negoziabile
Prezzo: Negoziabile
Tempi di consegna: Negoziabile
Termini di pagamento: Negoziabile
Max Operating Temperature: |
1700°C |
Flexural Strength: |
350 MPa |
Dielectric Loss: |
0.0002 |
Method: |
lsostatic presure |
Dimensional Tolerance: |
±0.001 mm |
Machinability: |
Difficult |
Mechanical Strength: |
High |
Alumina Content: |
95% |
Tensile Strength: |
200 MPa |
Type: |
Alumina Ceramic Parts |
Size: |
Customized |
Dielectric Constant: |
9.8 |
Materials: |
92% alumina powder |
Surface Finish: |
Polished |
Thermal Expansion Coefficient: |
8.5 x 10^-6 /K |
Max Operating Temperature: |
1700°C |
Flexural Strength: |
350 MPa |
Dielectric Loss: |
0.0002 |
Method: |
lsostatic presure |
Dimensional Tolerance: |
±0.001 mm |
Machinability: |
Difficult |
Mechanical Strength: |
High |
Alumina Content: |
95% |
Tensile Strength: |
200 MPa |
Type: |
Alumina Ceramic Parts |
Size: |
Customized |
Dielectric Constant: |
9.8 |
Materials: |
92% alumina powder |
Surface Finish: |
Polished |
Thermal Expansion Coefficient: |
8.5 x 10^-6 /K |
Prestazioni di isolamento Base ceramica di allumina per apparecchiature di misurazione di precisione e ispezione industriale
Queste basi di supporto in ceramica di allumina sono fabbricate utilizzando materiale Al2O3 ad alta purezza del 99,6%, specificamente progettato per apparecchiature di misurazione per semiconduttori, ottici e di precisione.di larghezza inferiore o uguale a 1 mm.01 mm/m e un coefficiente di espansione termica di 7,2 × 10−6/°C, i prodotti mantengono una stabilità dimensionale eccezionale a temperature estreme (-60°C~1500°C) e in ambienti vuoti (≤10−8Pa).
Apparecchiature per semiconduttori: Wafer stage per litografia, basi per le camere dei reattori di incisione
Ottica di precisione: piattaforme di riferimento per interferometri laser, supporti per specchi per telescopi spaziali
Strumenti analitici: Stadio di campionamento al microscopio elettronico, supporti per sorgenti ioniche dello spettrometro di massa
Ispezione industriale: base della macchina CMM, giradischi per la prova della rotondità
Nuova energia: supporti per pile a combustibile, supporti per apparecchiature di rivestimento fotovoltaici
Caratteristica | Specifica tecnica | Valore di applicazione |
---|---|---|
Stabilità termica | ΔL/L<0,001%/°C | Elimina gli errori di deriva termica |
Compatibilità con il vuoto | Tasso di fuoriuscita < 10−11 Pa·m3/s | Mantiene un vuoto ultra elevato |
Forza meccanica | Resistenza alla flessione> 400 MPa | Supporta componenti di precisione senza deformazioni |
Performance dell'isolamento | Resistenza al volume > 1016Ω·cm | Elimina le interferenze da perdite elettriche |
Parametro | Tipo standard | Tipo ad alta precisione |
---|---|---|
Purezza materiale | 990,6% Al2O3 | 990,9% Al2O3 |
Piatto | ≤ 0,02 mm/m | ≤ 0,005 mm/m |
Roughness superficiale | Ra0,1 μm | Ra0,025 μm |
Coefficiente di espansione termica | 7.5×10−6/°C | 7.2×10−6/°C |
Tasso di perdita di vuoto | < 10−10mbar·L/s | < 10−11mbar·L/s |
Trasformazione della polvere: polvere di alta purezza da 0,1 μm con granulazione a spruzzo
Processo di formazione: Pressa isostatica (300MPa) combinata con lavorazione a controllo automatico
Tecnologia di sinterizzazione: sinterizzazione a gradiente a 1700°C in atmosfera di idrogeno
Macchinari di precisione:
di larghezza superiore a 50 mm ma non superiore a 150 mm
Polizione magnetoreologica (precisione della superficie λ/20@632,8 nm)
Trattamento in camera pulita: assemblaggio completato in sala pulita di classe 100
Ispezione completa: Interferometro laser + CMM controllo dimensionale completo
Requisiti di installazione:
✓ Utilizzare una chiave di coppia (valore raccomandato 1,5±0,2N·m)
✓ Utilizzare attrezzi dedicati alle stanze pulite
✓ Preadeguamento raccomandato per la corrispondenza termica (gradiente di temperatura < 2°C/min)
Limitazioni ambientali:
Evitare il contatto con acido fluoridrico
Evitare shock termici > 200°C/min
Non adatto ad ambienti di ossidazione continua > 1600°C
Supporto tecnico: Analisi di stress gratuita FEA
Risposta rapidaServizio accelerato di 72 ore
Gestione della tracciabilità: record di produzione completi decennali
Supporto alla certificazione: documenti di certificazione SEMI/FDA/ISO forniti
D: Come garantire la corrispondenza termica con i componenti in carburo di silicio?
A: Disponibile il progetto di transizione del gradiente CTE (regolabile a 7,2-4,5×10−6/°C)
D: Dimensioni massime di elaborazione?
A: limite tecnico attuale 500×500×100 mm (richiede attrezzature speciali)
D: La modifica del conduttore è supportata?
A: versioni antistatiche personalizzabili con resistenza superficiale 104-1010Ω
D: Come si garantisce la pulizia a livello di wafer?
A: Sterilizzazione finale con VHP (perossido di idrogeno vaporizzato)