Dettagli del prodotto
Luogo di origine: Prodotto in Cina, Zhejiang, Jinhua
Marca: Dayoo
Certificazione: GB/T 19001-2016/ISO 9001:2015
Numero di modello: dipendono dal prodotto reale
Termini di pagamento e di spedizione
Quantità di ordine minimo: come negoziato e concordato
Prezzo: As Negotiated and Agreed
Imballaggi particolari: Cartone, custodia in legno
Tempi di consegna: dipendono dal prodotto reale
Termini di pagamento: FOB
Capacità di alimentazione: fabbrica
Temperatura operativa massima: |
1700 ° C. |
Resistenza alla flessione: |
350 MPA |
Perdita dielettrica: |
0.0002 |
Metodo: |
Presura lsostatica |
Tolleranza dimensionale: |
± 0,001 mm |
Lavorabilità: |
Difficile |
Resistenza meccanica: |
Alto |
Resistenza alla trazione: |
200 MPA |
Tipo: |
Parti in ceramica di allumina |
Misurare: |
Personalizzato |
Costante dielettrica: |
9.8 |
Finitura superficiale: |
Lucido |
Coefficiente di espansione termica: |
8,5 x 10^-6 /k |
Materiale: |
Polvere di allumina al 99,5%. |
Materiale: |
Polvere dell'allumina di 95% |
Materiale: |
≥95% di polvere di allumina |
Temperatura operativa massima: |
1700 ° C. |
Resistenza alla flessione: |
350 MPA |
Perdita dielettrica: |
0.0002 |
Metodo: |
Presura lsostatica |
Tolleranza dimensionale: |
± 0,001 mm |
Lavorabilità: |
Difficile |
Resistenza meccanica: |
Alto |
Resistenza alla trazione: |
200 MPA |
Tipo: |
Parti in ceramica di allumina |
Misurare: |
Personalizzato |
Costante dielettrica: |
9.8 |
Finitura superficiale: |
Lucido |
Coefficiente di espansione termica: |
8,5 x 10^-6 /k |
Materiale: |
Polvere di allumina al 99,5%. |
Materiale: |
Polvere dell'allumina di 95% |
Materiale: |
≥95% di polvere di allumina |
Prestazioni di isolamento Base ceramica di allumina per apparecchiature di misurazione di precisione e ispezione industriale
Queste basi di supporto in ceramica di allumina sono fabbricate utilizzando materiale Al2O3 ad alta purezza del 99,6%, specificamente progettato per apparecchiature di misurazione per semiconduttori, ottici e di precisione.di larghezza inferiore o uguale a 1 mm.01 mm/m e un coefficiente di espansione termica di 7,2 × 10−6/°C, i prodotti mantengono una stabilità dimensionale eccezionale a temperature estreme (-60°C~1500°C) e in ambienti vuoti (≤10−8Pa).
Apparecchiature per semiconduttori: Wafer stage per litografia, basi per le camere dei reattori di incisione
Ottica di precisione: piattaforme di riferimento per interferometri laser, supporti per specchi per telescopi spaziali
Strumenti analitici: Stadio di campionamento al microscopio elettronico, supporti per sorgenti ioniche dello spettrometro di massa
Ispezione industriale: base della macchina CMM, giradischi per la prova della rotondità
Nuova energia: supporti per pile a combustibile, supporti per apparecchiature di rivestimento fotovoltaici
| Caratteristica | Specifica tecnica | Valore di applicazione |
|---|---|---|
| Stabilità termica | ΔL/L<0,001%/°C | Elimina gli errori di deriva termica |
| Compatibilità con il vuoto | Tasso di fuoriuscita < 10−11 Pa·m3/s | Mantiene un vuoto ultra elevato |
| Forza meccanica | Resistenza alla flessione> 400 MPa | Supporta componenti di precisione senza deformazioni |
| Performance dell'isolamento | Resistenza al volume > 1016Ω·cm | Elimina le interferenze da perdite elettriche |
| Parametro | Tipo standard | Tipo ad alta precisione |
|---|---|---|
| Purezza materiale | 990,6% Al2O3 | 990,9% Al2O3 |
| Piatto | ≤ 0,02 mm/m | ≤ 0,005 mm/m |
| Roughness superficiale | Ra0,1 μm | Ra0,025 μm |
| Coefficiente di espansione termica | 7.5×10−6/°C | 7.2×10−6/°C |
| Tasso di perdita di vuoto | < 10−10mbar·L/s | < 10−11mbar·L/s |
Trasformazione della polvere: polvere di alta purezza da 0,1 μm con granulazione a spruzzo
Processo di formazione: Pressa isostatica (300MPa) combinata con lavorazione a controllo automatico
Tecnologia di sinterizzazione: sinterizzazione a gradiente a 1700°C in atmosfera di idrogeno
Macchinari di precisione:
di larghezza superiore a 50 mm ma non superiore a 150 mm
Polizione magnetoreologica (precisione della superficie λ/20@632,8 nm)
Trattamento in camera pulita: assemblaggio completato in sala pulita di classe 100
Ispezione completa: Interferometro laser + CMM controllo dimensionale completo
Requisiti di installazione:
✓ Utilizzare una chiave di coppia (valore raccomandato 1,5±0,2N·m)
✓ Utilizzare attrezzi dedicati alle stanze pulite
✓ Preadeguamento raccomandato per la corrispondenza termica (gradiente di temperatura < 2°C/min)
Limitazioni ambientali:
Evitare il contatto con acido fluoridrico
Evitare shock termici > 200°C/min
Non adatto ad ambienti di ossidazione continua > 1600°C
Supporto tecnico: Analisi di stress gratuita FEA
Risposta rapidaServizio accelerato di 72 ore
Gestione della tracciabilità: record di produzione completi decennali
Supporto alla certificazione: documenti di certificazione SEMI/FDA/ISO forniti
D: Come garantire la corrispondenza termica con i componenti in carburo di silicio?
A: Disponibile il progetto di transizione del gradiente CTE (regolabile a 7,2-4,5×10−6/°C)
D: Dimensioni massime di elaborazione?
A: limite tecnico attuale 500×500×100 mm (richiede attrezzature speciali)
D: La modifica del conduttore è supportata?
A: versioni antistatiche personalizzabili con resistenza superficiale 104-1010Ω
D: Come si garantisce la pulizia a livello di wafer?
A: Sterilizzazione finale con VHP (perossido di idrogeno vaporizzato)
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