Dettagli del prodotto
Luogo di origine: Prodotto in Cina, Zhejiang, Jinhua
Marca: Dayoo
Certificazione: GB/T 19001-2016/ISO 9001:2015
Numero di modello: dipendono dal prodotto reale
Termini di pagamento e di spedizione
Quantità di ordine minimo: come negoziato e concordato
Prezzo: As Negotiated and Agreed
Imballaggi particolari: Cartone, custodia in legno
Tempi di consegna: dipendono dal prodotto reale
Termini di pagamento: FOB
Capacità di alimentazione: fabbrica
Misurare: |
Personalizzato |
Finitura superficiale: |
Lucido |
Forma: |
Personalizzabile |
Proprietà: |
isolamento elettrico |
Tipo: |
palla ceramica |
Applicazione: |
Ceramica industriale |
Coefficiente di espansione termica: |
8 x 10^-6 /K |
Resistenza alla trazione: |
250 MPA |
Temperatura operativa massima: |
1800°C |
Contenuto di allumina: |
92% e 95% |
Resistenza alla flessione: |
350 MPA |
Temperatura di utilizzo massimo: |
1.400 ° C. |
Water Absorption: |
0 |
Materiale: |
≥95% di polvere di allumina |
Misurare: |
Personalizzato |
Finitura superficiale: |
Lucido |
Forma: |
Personalizzabile |
Proprietà: |
isolamento elettrico |
Tipo: |
palla ceramica |
Applicazione: |
Ceramica industriale |
Coefficiente di espansione termica: |
8 x 10^-6 /K |
Resistenza alla trazione: |
250 MPA |
Temperatura operativa massima: |
1800°C |
Contenuto di allumina: |
92% e 95% |
Resistenza alla flessione: |
350 MPA |
Temperatura di utilizzo massimo: |
1.400 ° C. |
Water Absorption: |
0 |
Materiale: |
≥95% di polvere di allumina |
Ceramica di allumina di alta purezza con resistenza al volume di 104 Ohm*cm per applicazioni nei semiconduttori
Questa serie di componenti ceramici in allumina specifici per semiconduttori è prodotta utilizzando materiale Al2O3 di ultraalta purezza al 99,6% attraverso processi di fusione di nastro di precisione e sinterizzazione ad alta temperatura.I prodotti presentano un ottimo isolamento, resistenza alla corrosione e stabilità dimensionale, soddisfacendo i requisiti di pulizia della norma SEMI F47.
Fabbricazione di wafer: parti in ceramica di macchine da incisione, vasche di diffusione
Imballaggio e collaudo: substrati di schede di prova, prese di prova
Componenti dell'apparecchiatura: effettivi terminali per robot
Sistemi a vuoto: basi di scarico elettrostatiche
Ispezione ottica: guide ceramiche per macchine per litografia
✓ Ultra-pulita: contenuto di ioni metallici < 0,1 ppm
✓ Dimensioni di precisione: Tolleranza ± 0,05 mm/100 mm
✓ Resistenza al plasma: velocità di incisione < 0,1 μm/h
✓ Basso rilascio di gas: TML<0,1% CVCM<0,01%
✓ Alta affidabilità: supera 1000 cicli termici
| Parametro | Specificità | Standard di prova |
|---|---|---|
| Purezza materiale | Al2O3≥95% | GDMS |
| Resistenza al volume | > 1014Ω·cm | ASTM D257 |
| Costante dielettrica | 9.8@1MHz | IEC 60250 |
| Forza flessibile | ≥ 400 MPa | ISO 14704 |
| CTE | 7.2×10−6/°C | DIN 51045 |
| Roughness superficiale | Ra≤ 0,1 μm | ISO 4287 |
| Sgomberamento | TML < 0,1% | ASTM E595 |
Preparazione del materiale:
Polvere di Al2O3 di nano grado (D50≤0,5μm)
Fresatura a sfere ad alta purezza (aiuti alla sinterizzazione Y2O3-MgO)
Processo di moltiplicazione:
Fusione di nastri (spessore da 0,1 mm a 5 mm)
Pressione isostatica (200MPa)
Controllo della sinterizzazione:
Sinterizzazione in atmosfera in più fasi (1600°C/H2)
Post-trattamento HIP (1500°C/150MPa)
Macchine di precisione:
Processamento laser (± 5 μm)
Perforazione ad ultrasuoni (ratio di aspetto 10:1)
Pulizia e controllo:
Pulizia megasonica (stanza pulita di classe 1)
Prova di particolato SEMI F47
️ Immagazzinamento: imballaggio pulito di classe 100
️ Ambiente di installazione: 23±1°C RH45±5%
️ Pulizia: solo solventi per semiconduttori
️ Manipolazione: evitare il contatto diretto con le superfici funzionali
Verifica della pulizia: rapporti di prova VDA19
Analisi dei guasti: microanalisi SEM/EDS
Sviluppo su misura: co-progettazione DFM
D: Come garantire la pulizia della superficie di contatto del wafer?
A: Triplice protezione:
1 Attivazione della superficie plasmatica
2 Imballaggio sotto vuoto + immagazzinamento di N2
3 Pulizia dell'aria ionizzata prima dell'installazione
D: Performance nel plasma a base di fluoro?
A: Versione trattata in modo speciale:
• velocità di incisione < 0,05 μm/h
• Strato di passivazione AlF3
• 3 volte più lunga durata
D: Dimensione massima di elaborazione?
R: 200×200 mm standard, processo speciale fino a 400×400 mm.
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